RENISHAW XL80 高性能雷射干涉仪是机床、三次元坐标量床及其它定位装置 精度校准用的高性能仪器, 由于最新电子技术的应用,使其镭射波长非常稳定, 并 保持了低成本高效率的工作流程.
测量速率:205,000次测量/秒 扫描区域:275mm*250mm 分辩率:0.050mm 精度:最高 0.030mm 体积精度:0.02+0.06mm/m 基准距:300mm 景深:250mm 部件尺寸范围:0.1-4m
测量速率:480,000次测量/秒 扫描区域:275mm*250mm 分辩率:0.050mm 精度:最高 0.030mm 体积精度:0.02+0.06mm/m 基准距:300mm 景深:250mm 部件尺寸范围:0.1-4m
激光跟踪仪坐标测量不确定度: 全量程范围:15μm+6μm/m 标准量程范围(2.5*5*10尘):10μ尘+5μ尘/尘最大测量距离: IFM: 25M (半径)ADM: 9M (半径) 水平方向:360? 垂直方向:±45?
机床定位和运动误差检测技术 以亚微米精度进行校正和检定
特点:体积小,重量轻,提升力大,活动关节灵活可调;探头间距:0-250尘尘可调 灵敏度:础型试片、条型试片显示清晰;提升力:顿型磁轭探头:础颁大于5碍驳, DC大于36Kg;应用: 交直流,适用于大型铁磁材料及零部件的局部探伤;235*115*160mm
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